씨케이앤비, 하이닉스 품질관리 솔루션 공급

일반입력 :2011/08/22 18:48

송주영 기자

품질 측정 솔루션 개발업체 씨케이앤비(대표 배기혁)가 하이닉스반도체(대표 권오철) 자동화그룹과의 공동연구를 통해 반도체 웨이퍼와 회로도 불량 여부를 검사 솔루션을 개발했다고 22일 밝혔다.

순수 국산 품질 측정 솔루션(SSELF for Semiconductor)으로 외산 제품 대체 효과가 기대된다. 반도체 업계는 기존 반도체 웨이퍼 백사이드, 회로도 불량 여부 검출을 위해서는 엔지니어의 수동 측정, 외산의 고가 장비 검출 테스트에 의존했다.

소요되는 시간, 비용이 많은 데 더해 유사 불량이 발생하는 경우 원인을 다시 분석해야 하는 문제점이 있다. 씨케이앤비 품질 측정 솔루션은 반도체의 웨이퍼, 회로도를 비전카메라로 이미지를 얻는 역할을 한다. 하이닉스반도체 공정관리팀에서 제공한 불량 검출 알고리즘, 회로패턴 분석 알고리즘을 이미지 프로세싱과 접목해 반도체의 웨이퍼 상 다양한 불량 유형을 자동 검출한다.

솔루션을 통해 얻어낸 정보와 하이닉스반도체 자동화그룹에서 구축한 불량 패턴 분석 시스템을 이용해 웨이퍼 생산 라인 문제점을 조기 파악할 수 있다.

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품질 측정 솔루션은 하드웨어가 아닌 소프트웨어로 구축됨에 따라 생산 설비, 유지보수 시간과 비용을 절감했다. 씨케이앤비는 하이닉스 적용사례를 바탕으로 품질측정 솔루션 수출도 추진할 계획이다.

씨케이앤비는 반도체 뿐만 아니라 TV, 셋톱박스, DVD 플레이어 등의 불량을 테스트 할 수 있도록 제품을 확대 개발했다. ‘SSELF for Display’, ‘SSELF for Player’의 개발도 완료해 공급 중이다.